World leading in XRF since 1986

                                                                                      中國華唯 · 識微見遠

                                                                                      搜索

                                                                                      創新研究與開發

                                                                                      華唯計量北京研發中心

                                                                                      北京研發中心是華唯斥巨資著力打造的集產品研發與應用、技術服務與咨詢為一體的研發分支機構。中心下設結構與外觀設計、電路開發以及軟件設計三個分支方向,承擔著公司XRF產品的開發、推廣、應用和服務等工作。并緊跟業界前沿動態,為公司產品戰略發展提供依據。

                                                                                      圖片展示

                                                                                      中心在技術領軍人物劉小東先生的帶領下,由數名畢業于國內知名院校及中科院系統的中高級人才組成,其中碩士及以上學歷人才超過30%,廣泛引進了包括核物理、凝聚態物理、基礎數學、微電子設計、化學分析等方面的人才。 


                                                                                      成立至今,已先后設計完成了Ux-210、Ux-220能量色散型XRF儀器,為數百家國內外客戶提供了RoHS和無鹵測試解決方案。2010年,研發中心在國內率先推出了偏振二次靶型能散產品——Ux-800P,該機型是深厚的XRF技術功底與數年積累的應用經驗相結合的產物。 


                                                                                      中心歷時兩年傾力打造的固定道波長色散型XRF儀器Ux-1000W,可以在60秒時間內同時完成多達10個元素的精確測試,充分滿足水泥、玻璃、陶瓷、鋼鐵等行業的生產控制需求;并且在穩定性、準確性、易維護性、遠程操作等方面較國內同類產品有不同程度的提高和突破。 


                                                                                      研發中心成立至今已獲得了數項實用新型專利、發明專利及自主版權專利。展望未來,華唯也將繼續立足于在RoHS測試領域,積極開拓XRF技術在其他行業的應用,不斷推出更好的、更有技術含量的產品,為產業健康發展助一臂之力。

                                                                                      XRF領域技術專家  

                                                                                      圖片展示

                                                                                      劉小東,華唯研發總監


                                                                                      1991年畢業于北京大學物理系,1995年獲中國建筑材料科學研究院無機非金屬材料專業工學碩士學位。參與并擔任國家“九五”科技攻關X熒光光譜儀攻關課題副組長和軟件負責人,以及國家“十一五” 科技攻關項目XRF課題研發。獲得“X熒光分析對有毒有害物質實時檢測及控制系統”專利和“偏振二次靶能量色散型X射線熒光光譜儀”專利。作為我國最早的XRF技術項目的核心專家成員,長期在該領域從事技術研發和產業化工作,并逐步成長為我國XRF技術的最權威人士。

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      1962年畢業于西安交通大學物理系反應堆工程專業,1982年赴日本東京大學工學部進行X射線熒光化學狀態分析技術和高分辨X熒光光譜學研究,獲博士學位。1984年回國后在中國建筑材料科學研究院工作,主要從事X熒光分析技術和工業過程自動控制技術等研究,并參與國家“七五”“九五”科技攻關,獲得“多元素同位素X射線熒光分析儀”發明專利、“同位素X熒光水泥多種成分分析儀”專利和“用于同定性X熒光光譜儀的等光程雙彎晶固定元素道分光器”專利,使X熒光多元素分析儀達到國際先進水平,是我國XRF行業帶頭人。

                                                                                      六大技術優勢

                                                                                      ——


                                                                                      圖片展示

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                                                                                      基本參數法(FP法)是根據X射線熒光強度與元素含量、厚度等的函數關系,應用核物理、應用數學、計算機等領域內的前沿研究成果,依據X射線熒光激發樣品物理機制所提供的數學校正方法,該測試方法適用于分析無標樣或少標樣的樣品,在合金、陶瓷、多元半導體材料、考古、地質樣品領域有廣泛應用空間。

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      X射線經偏振靶偏振后,再作為激發光源照射到樣品上,可以保證待測元素最佳激發狀態,并減少散射和干擾,從而大大降低背景,提高測試靈敏度和信噪比。

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,華唯以30年XRF領域研發積淀為基礎,結合華唯人對XRF技術領域的卓越領悟力,華唯計量設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于環保無鹵指令檢測。

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。華唯集結30年的技術積累,獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,業內唯一,華唯引領行業持續發展。

                                                                                      圖片展示

                                                                                      六、二次濾光技術


                                                                                      采用行業領先的二次濾光技術,測試金屬樣品中的管控元素精度明顯提高了1倍,同時靈活的濾光機構設計,可根據客戶需求的側重而定制濾光系統。

                                                                                      為什么選擇華唯?

                                                                                      ——


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                                                                                      華唯技術團隊從1986年開始承擔并圓滿完成了三項中國政府XRF科技攻關項目:國家“七五”科技攻關項目(EDXRF)、國家“九五”科技攻關項目(WDXRF)、國家“十一五”科技支撐項目(偏振二次靶EDXRF)...

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      作為國內技術專家代表參與國際電工委員會的IEC62321標準修訂;參與中國RoHS法規及合格評定制度的起草和GB/T33352國家標準的制定...

                                                                                      圖片展示

                                                                                      三、行業的引領者


                                                                                      偏振二次靶技術專利,利用X射線熒光無損快速分析原理,搭載華唯獨創的Visual FP基本參數法分析軟件,能夠快速準確對樣品進行全元素成分分析。并獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,業內唯一,引領行業持續發展...

                                                                                      圖片展示

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                                                                                      原廠配件,原廠服務,終身維修,2小時快速反應,工作曲線定制及專家審圖解譜服務,全面快速解決您遇到的問題...

                                                                                       

                                                                                               手機端                    微信二維碼

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